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開催日 2019/04/04 (木) 開催地 東京都

-測定法の種類、原理、測定の実際-

表面・界面状態の分析技術

主催 株式会社 技術情報協会 講師 野副 尚一 氏 受講料 54,000円   

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★ 形態の観察、元素の分析、物質の同定、化学結合状態の解析!
    企業の研究開発や品質管理でよく用いられる手法にフォーカスして解説!
開催日時 2019/04/04 (木)     10:00~ 17:00     (受付  09:30 ~ )

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申込み期間  ~ 2019/04/03
主催会社 株式会社 技術情報協会
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定員 30名
受講料 54,000円 (税込/各種割引については下段「お知らせ」欄をご参照ください)
開講場所 ・会場名: [東京・五反田] 技術情報協会 8F セミナールーム
・住所: 〒141-0031 東京都品川区西五反田2-29-5 日幸五反田ビル8F 
・交通アクセス: JR山手線・都営地下鉄浅草線 五反田駅徒歩 5分
講師
野副 尚一 氏 講師写真

野副 尚一 氏

(国研)産業技術総合研究所 招へい外来研究員

カリキュラム、
プログラム
【講座の趣旨】
試料の表面・界面の形態観察、元素分析、物質の同定・化学結合の状態解析を行う数多くの手法が存在する。本講座では、これらの手法を原理から統一的に理解し、試料に応じた最適な分析手法を選択するための指針を与える。また、特に広く用いられている光電子分光法、振動分光法、原子間力顕微鏡による試料測定の実際について紹介する。

1.表面・界面分析技術
 1.1 物質・材料と表面・界面
  (1)原子から構築される表面・界面
  (2)固体の基本的性質
  (3)機器分析と表面・界面分析
 1.2 プローブからみた表面・界面分析
  (1)光をプローブとする手法
  (2)電子をプローブとする手法
  (3)イオンをプローブとする手法
 1.3 波としてのプローブ
  (1)X線回折
  (2)電子線回折
 1.4 局所分析
  (1)投影型顕微鏡
  (2)走査型顕微鏡
 1.5 表面・界面分析と真空技術

2. 各論(1)光電子分光法
 2.1 光電子分光法事始め
 2.2 電子の分光
 2.3 真空紫外光電子分光法 
 2.4 X線光電子分光法
 2.5 光電子分光法のニューウエーブ

3.各論(2)振動分光法
 3.1 振動スペクトルによる化学結合の状態解析
 3.2 赤外分光法
 3.3 ラマン分光法

4.各論(3)走査プローブ顕微鏡
 4.1 走査型トンネル顕微鏡
 4.2 原子間力顕微鏡
 4.3 走査プローブ顕微鏡のニューウエーブ

【質疑応答】
__________________________
■スケジュール
10:00-11:10 表面・界面分析技術
11:20-12:30 表面・界面分析技術(続き)
12:30-13:10 昼食
13:10-14:20 各論(1)光電子分光法
14:30-15:40 各論(2)振動分光法
15:50-17:00 各論(3)原子間力顕微鏡
特典 セミナー資料付
各講で最後に質疑応答時間あり。終了後の個別質疑、名刺交換、可。

セミナー参加費
支払い方法
1. 銀行振込または現金書留にてお願いいたします。

2. 原則として開催日までにお願い致します。

3. 銀行振込の場合は、原則として領収証の発行は致しません。

4. 振り込み手数料はご負担ください。
お知らせ ●各種割引について
1. 同一テーマ1社2名以上同時申込の場合のみ、1名につき5,400円(税込)割引いたします。
2. 大学(教員、学生)、公的機関、医療機関の方は、「アカデミック価格」32,400円/1名(税込)でご参加いただけます。(2名同時申込割引は適用されません)

割引適用の場合は、お申し込み後、技術情報協会より確認のご連絡を差し上げます。

※定員になり次第、お申込みは締切となります。
※申し込み人数が開催人数に満たない場合など,状況により中止させて頂く事が御座います。
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